SFR-Fit

MTF-meetsoftware

Software voor het meten van de ruimtelijke frequentierespons (SFR) van camera's

 

 

 

BROCHUURZAAMHEIDCONTACT VERKOOP

Overzicht

SFR-Fit is software voor het meten van de MTF (Modulation Transfer Function), die de ruimtelijke frequentiekarakteristieken van een camera aangeeft. MTF drukt uit hoe getrouw het contrast van het afgebeelde onderwerp kan worden gereproduceerd en is het belangrijkste meetitem bij het evalueren van de cameraprestaties. Tot nu toe waren de meest gebruikte methoden voor het meten van MTF de schuine-randmethode op basis van ISO12233 en de sinuscontrastmethode met behulp van een Siemens sterrendiagram. SFR-Fit is een volledig nieuwe MTF-meetmethode die gebruik maakt van een uniek algoritme voor het verwerken van beelden met grote vervormingen, die in het verleden moeilijk te meten waren, en beeldbewerking zoals scherpte en compressie. Het is ideaal voor het evalueren van camera's die worden gebruikt in gebieden zoals auto's, surveillance en geneeskunde.

INTRODUCTIEVIDEO

KEY FEATURES

Bestand tegen ruis en beeldverwerking
Een probleem met de schuine-randmethode, die over het algemeen wordt gebruikt om MTF te meten, is dat de gemeten waarden in het hoogfrequente gebied onstabiel zijn bij aanzienlijke beeldruis. Wanneer beeldbewerking zoals scherpte en compressie wordt toegepast, wordt ook niet voldaan aan de lineariteit van de MTF-berekening, die de basis vormt van de schuine-randmethode, en kan de geldigheid van de gemeten waarde verloren gaan. SFR-Fit gebruikt de sinusoïdale contrastmethode en meet het contrast met de kleinste-kwadratenmethode. Met deze methode kan zelfs als het vastgelegde beeld ruis of harmonische componenten als gevolg van beeldbewerking bevat, de fundamentele component worden geëxtraheerd en gemeten, wat stabiele resultaten oplevert die niet worden beïnvloed door ruis of beeldbewerking.

Compatibel met fisheye- en ultragroothoekcamera's

De sinuscontrastmethode werd over het algemeen gemeten met behulp van een Siemens sterrenkaart, maar deze meetmethode was niet compatibel met beelden met grote vervormingen, zoals die verkregen zijn met een ultragroothoekcamera met een fisheye-lens. SFR-Fit lost het probleem op van de sinuscontrastmethode met behulp van de Siemens sterrenkaart door de vervorming van het beeld te analyseren en vervolgens de MTF te meten op het onvervormde testpatroon. Deze functie maakt een MTF-meting mogelijk die bestand is tegen ruis en beeldverwerking en die ook vervorming aankan. Bovendien wordt het proces van beeldvervormingsanalyse tot meting automatisch uitgevoerd, wat bijdraagt aan arbeidsbesparing bij inspectiewerkzaamheden.

Gratis plaatsing van testkaarten

SFR-Fit gebruikt een beeldscherm als testkaart om de MTF te meten met een testpatroon dat is uitgelijnd met de posities van de camera en de testkaart. Het optimale testpatroon wordt gegenereerd op een beeldscherm dat op de gewenste testlocatie is geplaatst, waarna de MTF nauwkeurig wordt gemeten. Hierdoor kan eenvoudig de periferie van een ultragroothoekcamera worden gemeten. *1
*1 Exacte plaatsing heeft voorwaarden. Raadpleeg de gebruiksaanwijzing voor meer informatie.

Kan gelokaliseerde MTF meten in een interessegebied (ROI)

Aangezien het testpatroon voor elke ruimtelijke frequentie wordt omgeschakeld, wordt het meetgebied (ROI) verkleind en kan gedeeltelijke MTF worden gemeten. Je kunt bijvoorbeeld de meetpunten willekeurig instellen, zoals het midden van het beeld en de beeldhoogte van 40% of 80%. Het meetgebied kan eenvoudig worden ingesteld door te klikken en slepen met de muis of door numerieke waarden in te voeren.

Eenvoudige systeemconfiguratie

De apparatuur die nodig is voor de meting is alleen een pc met SFR-Fit geïnstalleerd en een beeldscherm dat als testkaart wordt gebruikt. Nadat je de te inspecteren camera hebt aangesloten en de software-instellingen hebt voltooid, hoef je alleen maar op de startknop te drukken en de MTF-meetresultaten worden weergegeven. MTF-plotgegevens en MTF-waarden worden opgeslagen als een CSV-bestand. Het is ook mogelijk om afbeeldingen en testpatronen op te slaan tijdens de meting.

FUNCTIONALITEIT

Weergave kanaalselectiefunctie

Meetresultaten kunnen worden weergegeven voor elk luminantie- en R.G.B-kanaal. Het is mogelijk om alle componenten tegelijk weer te geven, maar het is ook mogelijk om elke component afzonderlijk weer te geven.

 

Functie voor selectie van grafiekeenheid

Er zijn drie selecteerbare resultaateenheden: lijnpaar per millimeter (LP/mm), cyclus per pixel (cycle/pixel) en lijnbreedte per beeldhoogte (LW/PH). Lijnparen per millimeter geeft het aantal weergegeven zwarte en witte lijnparen per millimeter aan. Cycli per pixel is de eenheid van ruimtelijke frequentie genormaliseerd door de pixelafstand van de beeldsensor en geeft het aantal cycli van het patroon aan dat per pixel wordt weergegeven. Als er bijvoorbeeld een sinuspatroon wordt getekend met 10 horizontale pixels, is er 0,1 cyclus per pixel, dus 0,1 cyclus per pixel. Aangezien er minstens 2 pixels nodig zijn om één cyclus weer te geven, is de hoogste frequentie 0,5 cyclus per pixel. Per afbeeldingshoogte geeft het aantal scans per afbeeldingshoogte aan.

Selecteerbare gegevenspunten

Je kunt de gemeten waarden weergeven in de grafiek van de meetresultaten. Klik gewoon ergens op de grafiek om de gemeten waarde weer te geven, zodat u de MTF-waarde gemakkelijk kunt aflezen. Bovendien is het mogelijk om meerdere punten tegelijk weer te geven, zodat u de meetwaarde van elk punt onmiddellijk kunt controleren.

 

Staafdiagram voor bemonstering golfvormweergave

Het is mogelijk om bemonsteringsgolfvormen weer te geven voor elke ruimtelijke frequentie, helderheid en R.G.B-kanaal van het gegenereerde staafdiagram. De horizontale as van de grafiek is het bemonsteringspunt (de resolutie varieert met de ruimtelijke frequentie). De verticale as is het helderheidsniveau na linearisatie. De bemonsteringsgolfvormweergave van SFR-Fit komt overeen met het randprofiel van de schuine-randmethode en kan bijvoorbeeld worden gebruikt om de invloed van beeldverwerking, het optreden van aliasing en de verzadiging van luminantie te controleren.

KLAAR OM UW TEST- EN MEETTOOLKIT TE TRANSFORMEREN?